试验项目：

1. 电子器件定量加速寿命试验 
2. 光器件定量加速寿命试验
3. 组件级模块定量加速寿命试验
4. 光电子器件2000hours/5000Khours，高温/8585/低温/温度循环等加速寿命试验

产品寿命数据统计计算及分析：

1. Chip/Device/Component失效率FIT数据统计计算
2. 光器件Random Failure Rate/Wear-out Failure Rate统计分析
3. 产品寿命的Weibull分析
4. 试验室产品浴盆曲线分析
5. 产品试验室返修率数据统计计算及分析
6. 产品使用寿命Uselife统计计算及分析
7. 试验室产品货架期数据预估及分析
8. Field data统计计算及分析

试验箱Specification：

1. 温度范围：-40℃～+150℃
2. 温度波动度：≤ ±0.5℃
3. 温度均匀度：≤ ±2℃
4. 温度变化率： 10℃/min 
5. 温变速率呈线性变化

满足标准： 

1. JEDEC47/78
2. GR468
3. 客户定制的试验方案